半导体薄膜与纳米材料研究组

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美国Sandia国家实验室高级科学家Jianyu Huang学术报告


题目:原位透射电镜在纳米科学和能源方面的应用
Application of in-situ electron microscopy in nanoscience and energy research
报告人:Jianyu Huang美国Sandia国家实验室集成纳米技术研究中心高级科学家
时间:2011年7月12日星期二下午3:00
地点:曹光彪楼326会议室
主 持 人:浙江大学材料系主任 叶志镇 教授
联 系 人:叶春丽 电话:87952625
Jianyu Huang简历
美国Sandia国家实验室集成纳米技术研究中心高级科学家。他于1996年毕业于中科院金属所,获博士学位,而后受到卓越研究基地和日本学术振兴会的资助到日本进行研究工作。从1999年到2001年,在美国洛斯阿拉莫斯国家实验室做博士后。2002年-2006年在波士顿学院物理系任研究员。Jianyu Huang博士长期以来从事电子显微学及其在材料科学方面的应用研究。现在主要利用TEM-SPM连用技术原位观测碳纳米管、纳米线和石墨烯的结构与性质。Jianyu Huang博士还开发了能够进行原位热学和热电、电化学电池方面研究的微型电子器件。其研究目标就是获得纳米材料在尺寸、缺陷、电子的表面性质、声子、离子和质量传输过程方面的信息。 Jianyu Huang博士已经在国际顶级期刊Nature、Science、Physical Review Letters、Nature Nanotechnology、Nature Communications、Nature Methods,PNAS、Nano Letters等上发表论文140余篇。应邀出席学术报告50多场,包括MRS会议、TMS、AVS、the Microscopy Society of America等。他的研究工作还受到了New York Times、Nature、Nature Nanotechnology、New Scientists、Chemical Engineering News、EETimes、Science News、Sandia Lab. News的关注和报道。